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LYRX-A容性设备介质损耗带电测(ce)(ce)量系(xi)统的(de)研(yan)制成功(gong)，得益于高(gao)性能的(de)电流(liu)传(chuan)感(gan)器(qi)和先进的(de)嵌入(ru)(ru)式系(xi)统的(de)采用。采用高(gao)精(jing)度外置式穿心电流(liu)传(chuan)感(gan)器(qi)替(ti)代以往通常采用的(de)“取样保护单(dan)元”（包含多(duo)个开关回路，测(ce)(ce)试(shi)(shi)时(shi)用于将(jiang)末(mo)(mo)屏电流(liu)切换至测(ce)(ce)试(shi)(shi)仪(yi)(yi)器(qi)，存在末(mo)(mo)屏开路危险，测(ce)(ce)试(shi)(shi)时(shi)需要操作(zuo)多(duo)个短接片以将(jiang)末(mo)(mo)屏电流(liu)引入(ru)(ru)测(ce)(ce)试(shi)(shi)仪(yi)(yi)器(qi)）