串联谐振耐压试验方法

变压器常见的串联谐振耐压试验方法有两种：

(1)电(dian)(dian)感(gan)式串联(lian)谐振耐(nai)压(ya)试验。高(gao)压(ya)电(dian)(dian)路(lu)(lu)中串接可调电(dian)(dian)感(gan)L。当(dang)调节电(dian)(dian)抗器使(shi)WL1/WCX=时，电(dian)(dian)抗上(shang)的(de)压(ya)降(jiang)(jiang)在数值上(shang)等于(yu)电(dian)(dian)容器上(shang)的(de)压(ya)降(jiang)(jiang)，电(dian)(dian)路(lu)(lu)达到谐振状(zhuang)态，被测(ce)物上(shang)产生工频高(gao)压(ya)。

(2)变频(pin)串联谐(xie)(xie)振耐压试(shi)验(yan)。当(dang)变频(pin)器接(jie)入试(shi)验(yan)电(dian)源时，电(dian)源频(pin)率可(ke)在(zai)(zai)30-300Hz范围(wei)内(nei)调节变化。当(dang)变频(pin)器柜(ju)的(de)输(shu)出电(dian)压频(pin)率达(da)(da)到谐(xie)(xie)振条(tiao)件，即(ji)f=1/(2π√LC)时，被测(ce)物(wu)上就会产生(sheng)谐(xie)(xie)振高压。如果同(tong)时调整电(dian)抗器组合和电(dian)容，则测(ce)试(shi)频(pin)率可(ke)控制(zhi)在(zai)(zai)45～65fhz的(de)频(pin)率范围(wei)内(nei)，大多数可(ke)控制(zhi)在(zai)(zai)49～51hz的(de)频(pin)率范围(wei)内(nei)。由于便(bian)于调节设备到达(da)(da)非振动点，目(mu)前现(xian)场(chang)普遍(bian)采用。

进行(xing)变(bian)压(ya)器串联谐振耐压(ya)试验时，应注意：

(1)升压前(qian)应(ying)(ying)进行整定。采用串(chuan)联谐(xie)振(zhen)试(shi)(shi)验装置时，试(shi)(shi)验电(dian)(dian)压频率应(ying)(ying)不(bu)低于40Hz，满电(dian)(dian)压耐受时间为60s。试(shi)(shi)验时，应(ying)(ying)在低激励电(dian)(dian)压下(xia)调谐(xie)电(dian)(dian)感或(huo)频率，寻找谐(xie)振(zhen)点(dian)。当(dang)测试(shi)(shi)物上的电(dian)(dian)压达到(dao)最(zui)高(gao)时，即(ji)(ji)达到(dao)测试(shi)(shi)电(dian)(dian)路(lu)的谐(xie)振(zhen)点(dian)，即(ji)(ji)可开(kai)始升压测试(shi)(shi)

(2)谐振试(shi)(shi)验(yan)(yan)(yan)电(dian)路(lu)的(de)品(pin)质因数(shu)(shu)Q值与试(shi)(shi)验(yan)(yan)(yan)设备(bei)和试(shi)(shi)验(yan)(yan)(yan)对象(xiang)绝(jue)缘(yuan)表面的(de)干燥、清(qing)洁(jie)程度以及(ji)高压引线(xian)的(de)直(zhi)径(jing)和长(zhang)度有关，因此试(shi)(shi)验(yan)(yan)(yan)应在天气(qi)晴(qing)朗(lang)。试(shi)(shi)验(yan)(yan)(yan)设备(bei)和试(shi)(shi)验(yan)(yan)(yan)对象(xiang)的(de)绝(jue)缘(yuan)表面应干燥、清(qing)洁(jie)。尽量缩短高压引线(xian)长(zhang)度，采(cai)用大直(zhi)径(jing)高压引线(xian)，以减少电(dian)晕损耗(hao)。提高测试(shi)(shi)电(dian)路(lu)的(de)品(pin)质因数(shu)(shu)Q值。

耐压试验时，电力(li)设备(bei)绝缘不合格的(de)可能(neng)原因有(you)：

(1)绝(jue)缘(yuan)劣化(hua)。例(li)如，变(bian)压(ya)(ya)器油中的(de)水(shui)分、固体绝(jue)缘(yuan)中的(de)水(shui)分、绝(jue)缘(yuan)老化(hua)等(deng)都会导(dao)致绝(jue)缘(yuan)性能下降，在耐压(ya)(ya)试(shi)验(yan)时可(ke)能不合格。

(2)试(shi)(shi)(shi)验方法和电压(ya)(ya)测(ce)(ce)(ce)量(liang)方法不正确。例如(ru)，在(zai)变压(ya)(ya)器测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)时(shi)，如(ru)果(guo)未测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)绕组没有对地短路，则未测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)绕组可(ke)能会对地放电而被(bei)误判为(wei)不合格。又(you)例如(ru)，在(zai)测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)大容(rong)(rong)量(liang)的(de)(de)被(bei)测(ce)(ce)(ce)物时(shi)，仍然在(zai)低压(ya)(ya)侧测(ce)(ce)(ce)量(liang)电压(ya)(ya)。由于容(rong)(rong)量(liang)上升效应，实际施加在(zai)试(shi)(shi)(shi)品(pin)上的(de)(de)电压(ya)(ya)超过试(shi)(shi)(shi)验电压(ya)(ya)，导致试(shi)(shi)(shi)品(pin)击穿，误判为(wei)不合格。

(3)没(mei)有适当考虑影响(xiang)绝缘特性的大气条件。由于气压(ya)、温度和湿度对火(huo)花放(fang)电(dian)(dian)电(dian)(dian)压(ya)和击穿电(dian)(dian)压(ya)有一定(ding)的影响(xiang)，如果不考虑这些因素，可(ke)能会得(de)出设(she)备不合格的结论。